PacketMicro Delta-L 探針
Intel 針對印刷電路板（PCB）特性分析所提出的 Delta-L 方法，是一項能精確測量高速訊號走線之單位長度損耗（Loss per unit length）的技術。
核心概念:
- 測試樣板 (Test Coupons): 在板上製作一段特定長度差異的傳輸線（Traces），例如一段 2 英吋與一段 5 英吋的走線。
- 差分測量 (Differential Measurement): 使用向量網路分析儀（VNA）測量每段走線的 S 參數。測量結果會包含走線本身的損耗，以及來自測試環境（如探針、過孔 Vias 等）的寄生損耗。
- 減法與除法 (Subtraction & Division): 將長走線的測量數據減去短走線的數據，損耗差異再除以走線的長度差，即可得出該 PCB 材料與走線幾何結構的「單位長度損耗 (Per-unit-length Loss)」。
技術優勢:
- 高效率: 無需複雜耗時的校正標準，即可獲得精確的損耗值。
- 材料驗證 : 精確分析 PCB 材料特性，如介電常數 (Dk) 與損耗因子 (Df)。
- 製程控制 :製造商可以監控製程變異，確保產品符合設計的電氣要求。
- 去嵌入 (De-embedding) :從測量結果中移除不必要的治具效應（Fixture effects）。
選擇關鍵因素:
- 頻寬 (Bandwidth): 探針的頻寬必須足以精確測量目標頻率範圍。
- 間距 (Pitch): 探針的間距（Pitch）必須與 PCB 測試樣板上的焊盤（Pad）幾何結構相匹配。例如，Delta-L 4.0 規範通常要求探針焊盤為 0.5 mm 間距。
- 物理耐用性 (Physical Robustness): 探針具備高度的堅固性與耐用度，以確保在大量重複連接下仍能維持品質。
- 重複性 (Repeatability): 探針在每次連接時必須穩定產生相同的電氣接觸，以產生正確的測量數據。
- 插入損耗 (Insertion Loss): 具備低損耗且特性明確（Well-characterized）的探針，確保去嵌入獲得高品質的數據。
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